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SpectrumTEQ-EL 電致發光量子效率測量系統，可以針對發光器件的光電特性進行有效測量，系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性，可確保測量結果得準確性；同時，系統配有強大的測試軟件，對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

SpectrumTEQ-PL光致發光量子效率測量系統，針對器件的光致發光特性進行有效測量，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出，即可完成光致發光量子效率的測試。系統搭配QE Pro光譜儀信噪比高、雜散光低，動態范圍大，適合不同波段和強度的激發光和發射光測量。同時，系統配有強大的測試軟件，向導式的軟件操作邏輯讓測試過程變的簡單，迅速。